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ISO 11155-2-2009 道路车辆.乘客舱内空气过滤器.第2部分:气体过滤试验

作者:标准资料网 时间:2024-04-24 05:24:47  浏览:8187   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Roadvehicles-Airfiltersforpassengercompartments-Part2:Testforgaseousfiltration
【原文标准名称】:道路车辆.乘客舱内空气过滤器.第2部分:气体过滤试验
【标准号】:ISO11155-2-2009
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2009-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际标准化组织(IX-ISO)
【起草单位】:ISO/TC22
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:空气过滤器;空调系统;环境空气;循环空气;定义;滤波器元件;过滤器;气体过滤器;室内气候;室内;车辆内部;汽车;旅客车厢;性能试验;道路车辆;试验;试验条件;运载工具部件;车辆;通风
【英文主题词】:Airfilters;Air-conditioningsystems;Ambientair;Circulatingair;Definition;Definitions;Filterelements;Filters;Gasfilters;Indoorclimate;Indoors;Interiorofvehicles;Motorvehicles;Passengercompartments;Performancetests;Roadvehicles;Testing;Testingconditions;Vehiclecomponents;Vehicles;Ventilation
【摘要】:
【中国标准分类号】:T26
【国际标准分类号】:43_040_60
【页数】:17P;A4
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:Methodforthedeterminationoftheflatcrushresistanceofsinglefacedandsinglewallcorrugatedfibreboard
【原文标准名称】:单面和单壁瓦楞纸板耐平压性的测定方法
【标准号】:BS4686-1971
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1971-03-15
【实施或试行日期】:
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:纸制品;破碎试验;包装箱;纸板;波纹状的;压缩试验;机械试验;试验设备
【英文主题词】:crushingtests;board(paper);packingcases;compressiontesting;mechanicaltesting;paperproducts;corrugated;testequipment
【摘要】:
【中国标准分类号】:Y30
【国际标准分类号】:
【页数】:8P;A4
【正文语种】:英语


基本信息
标准名称:硅外延片
英文名称:Silicon epitaxial wafers
中标分类: 冶金 >> 半金属与半导体材料 >> 半金属与半导体材料综合
ICS分类: 电气工程 >> 半导体材料
替代情况:替代GB/T 14139-1993
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2009-10-30
实施日期:2010-06-01
首发日期:1993-02-06
作废日期:
主管部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
提出单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
起草单位:宁波立立电子股份有限公司
起草人:许峰、刘培东、李慎重、谌攀
出版社:中国标准出版社
出版日期:2010-06-01
页数:12页
计划单号:20062372-T-469
适用范围

本标准规定了硅外延片的产品分类、技术要求、试验方法和检验规则及标志、包装运输、贮存等。
本标准适用于在N 型硅抛光片衬底上生长的n型外延层(N/N+ )和在p型硅抛光片衬底上生长的P型外延层(P/P+ )的同质硅外延片。产品主要用于制作硅半导体器件。其他类型的硅外延片可参照使用。

前言

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目录

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引用标准

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款?凡是注日期的引用文件,其随后所有
的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究
是否可使用这些文件的最新版本?凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准?
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(GB/T2828.1-2003,ISO28591;1999,IDT)
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GB/T6624 硅抛光片表面质量目测检验方法
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GB/T12964 硅单晶抛光片
GB/T13389 掺硼掺磷硅单晶电阻率与掺杂浓度换算规程
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GB/T14246 半导体材料术语
GB/T14847 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法
YS/T24 外延钉缺陷的检验方法

所属分类: 冶金 半金属与半导体材料 半金属与半导体材料综合 电气工程 半导体材料